芯片高溫老化測試箱，也稱為高溫老化測試箱，高溫試驗箱，高溫烤箱，高溫烘箱，高溫老化箱。

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美國IC芯片溫度沖擊測試機

體積小，重量輕，攜帶方便

昆山壓力測試架：專用于檢測各種線束接線端子的拉脫力。本儀器具有設(shè)備小巧、控制準確、測量精度高、試件裝夾方便、操作簡單/手動加載，立式安裝；操作簡單，結(jié)構(gòu)緊湊；

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專為晶圓測試而特別制作的，最大可測8寸晶圓，盤面帶刻度線便于晶圓定位。

圓形織物試樣在一定的壓力下，與標準磨料按李莎如(Lissajous)曲線的運動軌跡進行互相磨擦，導(dǎo)致試樣破損，以試樣破損的耐磨次數(shù)表示織物的耐磨性能。

手壓式拉壓測試架專門為NK、HF系列推拉力計配套，可組合成不同用途的的測試架，進行準確的拉壓負荷、插拔力、破壞性試驗等測試

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