深圳市科瑞杰科技有限公司
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世界X的快速光谱辐射计。完全满足美国IESNA LM-79和中国GB/T 24824等标准要求。
可实现LED的瞬态光学特性测量（脉冲测量）及稳态光学特性测量（直流测量）。
X863计划研究成果，获美国X授权（X号：US 7,978,324 B2），“中国XX秀奖”，“XX批自主创新产品”，“X重点新产品”荣誉。
一、产品选型表：
规格 项目 | HAAS-2000 | ||||||
UV | VIS | UVIS | VIR | UVIR | IR1 | IR2 | |
波长测量范围 | 200-400nm | 380-780nm | 200-800nm | 350-1100nm | 200-1200nm | 780-1650nm | 1500-2550nm |
光学带宽 | 1nm | 2.0nm | 4nm | 4nm | 5nm | 9nm | 15nm |
波长准确度 | ±0.1nm | ±0.3nm | ±0.3nm | ±0.3nm | ±0.3nm | ±0.5nm | ±3nm |
二、基本工作原理：
世界X高精度快速光谱辐射计一般由凹面平均衍射光栅和科学XCCD构成，世界上也只有极少数制造商能够提供如此高精度的CCD和光栅。然而实践证明即便 是世界X的商用凹面平场衍射光栅和世界X的商用科学XCCD，在系统光学耦合匹配方面仍存在一定不足，远方公司在高精度快速光谱仪方面积累了丰富经 验，改良了CCD与光栅的匹配设计，使整个系统的光学匹配更趋完美，系统所获得的光谱更纯，线性更好。此外，远方公司采用X特的杂散光控制技术、宽动态线 性技术、精密CCD电子驱动技术和复变矩阵软件技术，并成功应用了带通色轮校正技术(BWCT)、分光积分结合技术(SBCT)，以及修正的NIST杂散 光校正技术等多项X技术，整个系统实现了前所未有的5.00E-05的极低杂散光水平（在A光源严格条件下）和0.3%的全动态光度线性性能。关键技术 指标在X处X地位。
三、技术X越性：
1、低杂散光
通过改良设计后高度匹配度的高精度光栅和科学X制冷型阵列探测器，并利用BWCT技术和修正的NIST杂散光校正技术，HAAS-2000的杂散可以比原有高精度快速光谱仪的十分之一还要低。
2、宽线性动态测量范围
与普通阵列探测器相比，HAAS-2000中的科学X阵列探测器具有更宽的线性动态范围，且光学匹配改造设计后，仪器的动态范围进一步拓宽。此外，SBCT技术也大辐提高了HAAS-2000的线性动态范围。
3、快速
HAAS-2000不仅可以测量光源的稳态特性，而且可以测量它们瞬态光学特性，完全符合相关标准的规定。在仪器的灵敏度范围内，无论被测光的瞬态脉冲多 快（如小于微秒X），仪器均可以通过同步触发功能实现快速的全光谱测量。HAAS-2000采用科学X阵列探测器代替机械扫描系统，可以在极短的测量时间 内（毫秒X）完整完成X测量整个光谱范围。
4、高精度
HAAS-2000专为高精度应用场合设计，通过对世界X商用科学X制冷型阵列探测器和精密光栅进行改良设计，使其更加匹配，再配以精 密的光学系统和电子线路，同时采用多项X技术，整个系统可以实现高分辨率、高灵敏度、低噪声、低杂散光和宽动态范围，从而实现X测量的目的。
5、高重复性和稳定性
仪器没有机械运动的扫描机构，唯一会产生随环境变化的温度因素也被恒温制冷技术控制到了±0.05℃的水平，测量的重复性和稳定性极高。
6、小巧
由于不含机械扫描装置，HAAS-2000设计精巧，无机械磨损，寿命极长，可靠性极高。HAAS设计轻巧，非常适合于需要便携的应用场合。
7、NIM和NIST 溯源
仪器可溯源至中国X计量院（NIM）和美国NIST传递的标准，量值准确度高。
8、光纤输入
采用光纤输入端，配置合适的光纤适配器以及相关附件后可以灵活的实现多种测量方案，这种灵活性使得HAAS-2000不仅应用在实验室和研究场合，也可应用在质量控制和生产线。
9、测量附件
广泛的可选附件为HAAS－2000的应用提供了方便。应用X域包括普通电光源、LED、显示屏等的光谱辐射度色度和光度测量以及光谱反射/透射测量。几乎所有的附件都由远方公司自行设计和生产制造，所以不存在不兼容的问题。
10、高灵敏度
经系统匹配改造设计的采用光栅和HAMAMATSU TE-制冷陈列探测器，使得仪器的灵敏度极高。
11、关键部件：阵列探测器
HAAS-2000中所使用的科学X高灵敏度阵列探测器与普通相比，成本要贵近100倍，它具有如下卓越特性：
●TE制冷： 内置TE制冷器，可以降低被照射的探测器芯片的温度，该项技术可以将动态范围提高一个数量X，并且降低暗噪声。
●背照式：光子不需要穿到芯片的深处，这使得它的灵敏度比传统前照式高一个数量X。
●宏模式：在同一列的象素点累加。通过宏操作，二维阵列探测器作为探测口径较长的一维线性光电探测器使用，明显提高了信噪比和信号处理速度。
● 低噪声，宽动态，稳定度较好的高UV响应。
四、主要技术指标：
型号 项目 | HAAS-2000VIS型 |
光学平台 | |
探测器 | HAMAMATSUTE-cooled背照式CCD，CCD制冷温度：-10℃，稳定度±0.05℃， CCD像素：1024x128（允许Binning模式） |
光栅 | 全息平场凹面衍射光栅 |
狭缝宽度 | 100μm(标准) |
光输入 | 光纤 |
多色仪 | |
波长测量范围 | 380-780nm(标准) |
光学带宽 | 2.0nm |
波长准确度 | ±0.3nm |
杂散光（A光源） | 5.00E-051) |
色度参数 | |
色坐标准确度(x,y) | ±0.00151) |
色坐标（x,y）重复性 | ±0.00015x，±0.0002y(蓝光LED) |
电参数 | |
A/D转换器 | 16bits/1.25MHz |
通讯接口 | USB2.0/RS-232 |
积分时间 | 9ms-60s |
电性能测试精度 | ±0.2X |
同步触发信号 | 可快速测量大功率LED脉冲模式下瞬态（脉冲）光色电特性和稳态（直流）光学特性 |
光度量 | |
光度线性 | ±0.3%2) |
重复性 | ±0.2% |
光强灵敏度 | 0.01mcd |
准确度 | ±1%3) |
1）应用BWCT技术；
2）应用SBCT技术；
3）不计源自标准灯的不确定度，远方公司可提供客户高精度但低价格的标准灯系统。
由于测量时间极短，HAAS-2000/3000可实现LED的瞬态光学特性测量（脉冲测量）及稳态光学特性测量（直流测量），完全满足美国能源之星IESNALM-79和中国GB/T24824等标准要求。配合TC系列LED温控系统，还可测量LED在不同温度下的光色电参数。
此外，对于节能灯、高压气体放电灯、无极灯、卤钨灯等稳态测试要求场合，HAAS-2000/3000可实现科学X的测试精度与极高的测试效率。
