
◇149eV的分辨率,全固态无液氮设计
◇SI-PIN光敏二极管,二X热电冷却器
◇内置温度控制监测检测器,密封的铍检测窗
◇检测范围广,操作简单
XR-100SDD
◇高计数率——5000,000 CPS
◇对峰值5.9keV的分辨率为139eV
◇High Peak-to-Background Ratio - 6500:1
◇规格为:7 mm2 * 500 µm
◇无液氮
XR-100CdTe
◇CdTe二极管探测器,热电冷却器(Peltier)
◇FET冷却,温度监控器
◇铍检测窗,密封包装(TO-8)
AXAS 系统
AXAS系统集成了记录计数率在1.000.000 计数/s以上的X快MCA和SDD (硅漂泊二极管)。利用MCDWIN MCA 软件,AXASMCA可以成为非常小的完全分光计,从而使获取光谱变得很容易。它还可以通过USB接口读取数据,因此该系统可以通过便携式计算机在任何地点工作。
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XR-100CR详细参数
探测器类型:硅针探测器(Si-PIN)
探测器尺寸:5 mm2---25 mm2
硅厚度:300µm,500µm,680µm
能量分辨率(5.9kev,55Fe):半峰宽145eV-230eV(取决于探测器种类和形成时间常数)
背景记数:〈3*10-3/s,2KeV-150KeV(针对7mm2/300um探测器)
探测器铍窗厚度:1mil(25µm)或0.5mil(12.5µm)
电荷敏感前置放大器:用户定制设计
增益稳定性:〈20PPM/(典型)
尺寸:3.75*1.75*1.13in(9.5*4.4*2.9cm)
重量:4.9盎司(139克)
总功率:〈1瓦
器件寿命:5-10年