天瑞仪器探测器维修联系电话：13527966873仪器有限公司主营产品：Amptek公司专注于生产小型、低功耗、高性能和易操作的X射线光谱仪。X123将Amptek公司的高性能X射线光谱分析元件产品集成在一个X立的盒体内，这些元件包括：XR100CR探测器和前放，DP5数字脉冲处理器和多道分析器以及 PC5电源。这样的一体化系统更适合手持操作。而市场上销售的其它谱仪系统，仅前置放大器就比X123谱仪更大、更重，而且更耗能。而X123额外需要的只有两根线缆连接：电源线（+5V 直流电）和数据线（USB 或 RS232）。任何人都能利用X-123方便快捷地得到高质量的X射线能谱。
该系统的核心部件是一个 Si-PIN光电二极管：X射线与硅作用，在硅中平均每损耗3.62 eV的 X射线能量便产生一个电子/空穴对，即为输入信号。
探测器以及输入场效应管（FET）均安装在一个热电致冷器上，并与一个定制的电荷敏感前放相连。热电致冷技术的应用缓解了探测器和前放上的电子学噪声问题，其工作原理与大家比较熟知的空调制冷比较类似；电荷敏感前放则采用了一种新型的反馈技术，即通过高压连接向探测器输入复位脉冲。
DP5是一个数字脉冲处理器，可代替现今大多数模拟信号系统中采用的成形放大器和多道分析器（MCA）。数字技术的应用改善了诸多关键参数：
1. 性能更佳，尤其是在高计数率时有更好的分辨率和性能；
2. 有更多的配置方案可选，因此使用范围较广，具有较大的灵活性；
3. 用户可利用RS-232 接口和配套软件控制，选择配置方案；
4. 稳定性和可重复性更好。
DP5 将前放的输出信号数字化，并对信号进行实时处理，测定峰值（即数字化），然后将这些数值存储于寄存器中，并生成能谱图，X后谱图通过DP5的接口传送到用户的计算机上。Amptek DP5处理器主要有 6个功能模块来实现上述程序：
1. 模拟信号预滤波器；
2. 模数转换器（ADC）；
3. 数字脉冲整形器；
4. 脉冲选择逻辑单元；
5. 寄存器单元；
6. 硬件接口（包括一个微控制器）和配套软件。
系统电源采用的是 Amptek公司的PC5模块（结构简单，单块电路板）。输入为电压约为+5V，电流为200mA的直流电。PC5中利用开关电源为数字处理器和前置放大器提供它们所需的直流低电压，同时它还包含了一个高压倍增器以产生探测器所需要的400V的高偏压，并闭环控制热电制冷器以提供达85℃的温差。另外在出厂前会针脚对配套探测器进行所有电源输出调试。
整个系统被封装在一个7 x 10 x 2.5 cm3的铝盒中，探测器安装于加长管的前端。在标准配置下，仅需两条连接线：电源线（+5V 直流电）和数据线（USB 或 RS232）。当 X123 与其他仪器配合使用时，DP5电路板上还可集成更多的输入/输出：一个 MCA 门，一个缓存选择信号、同步输出和 SCA 输出。详情请联系Amptek公司或查阅DP5说明书。

图4. X-123架构和接线图。

X-123参数说明：

系统性能

能量分辨率

在5.9 keV能量处半高全宽为145-230 eV。
具体数值因探测器、峰化时间和温度的不同而不同。

可探测能谱范围

在1.5-25keV能量范围中X射线探测效率>25%。
X过该能量范围则探测效率会有一定下降。

X大计数率

受峰化时间影响。开启堆积判弃功能时，
50%空载时间下推荐的X大计数率如下表。

DP5 峰化时间（µs）	2.4	6.4	25.6
成形时间（µs）	1.0	2.9	11.6
推荐的X大计数率	1.2x10⁵	4.6x10⁴	1.2x10⁴

探测器和前放

探测器类型

Si-PIN，SDD或CdTe。

探测器面积

6 mm²-25 mm²。

探测器厚度

300 µm和500 µm，点击此处查看效率曲线。

铍窗厚度

1mil(25µm)或0.2mil(12.5µm)，点击此处查看透射曲线。

准直器

多层，点击此处查看更多信息。

热电致冷

两X。

前放类型

AMPTEK公司为用户定制的可利用高压连接复位的前放。

脉冲处理器

增益

结合使用粗调和微调增益可获得从0.84到127.5连续可调的所有增益。

粗调增益

通过软件可选从1.12到102的共16个对数档：
1.12，2.49，3.78，5.26，6.56，8.39，10.10，11.31，
14.56，17.77，22.42，30.83，38.18，47.47，66.26，102.0。

微调增益

从0.75到1.25，通过软件可选，10bit精度。

X大刻度

增益为1时输入脉冲为1000 mV。

增益稳定性

<20 ppm/℃（典型情况）。

脉冲形状

梯形。

峰化时间

通过软件可选0.8到102µs间的24个峰化时间，
近似对数间隔，相当于0.4至45 µs的半高斯成形时间。

空载时间

总的空载时间为1.05倍的峰化时间，无转换时间。

脉冲对分辨时间
（快通道）

120 ns

多通道分析器

通道数

通过软件可选：8k，4k，2k，1k，0.5k或0.25k道。

预设值

时间，总计数，感兴趣能区（ROI）计数，单道计数。

数据传输

USB

全速2.0 （12Mbps）

串口

标准RS232接口（115.2k或57.6 k波特）

以太网

10BASE-T标准（10Mbps，双绞线）

电源

标准输入

一般情况下输入为+5 V，500mA直流电（2.5W）；
而电流和探测器温差ΔT强相关，300-800mA可变；
另外配有交流电源适配器。

输入电源范围

4 V-6 V（300-200 mA，X大500 mA）。

高压电源

内置倍增器，可达 400 V。

制冷器

闭环控制器，温差X大为ΔTmax =85℃。

常规参数和工作环境

工作温度

-20℃到+50℃。

保修期

1年。

典型寿命

视实际使用情况，一般为5至10年。

仓储和物流

长期存放：干燥环境下10年以上；
一般的仓储和物流：-20℃到+50℃，10%到90%的湿度，无凝结。

标准检测

符合RoHS标准。

TUV认证：
认证编号：CU 72101153 01；
检测于：UL61010-1:2009 R10.08；
CAN/CSA-C22.2 61010-1-04+GI1。

连线

USB

标准USB Mini接口

RS232

标准2.5 mm立体声耳机接口

尖端	发送数据	电脑DB9针脚2（DB25针脚3）
环	接收数据	电脑DB9针脚3（DB25针脚2）
套管	信号地	电脑DB9针脚5（DB25针脚7）

以太网

标准以太网连接器（RJ-45）

电源接口

Hirose Electric生产的MQ172-3PA(55)，配接插头：MQ172-3SA-CV。

其他线缆

16针接口（两排八脚，2 mm间距，Samtec产品编号ASP-135096-01）
和如下排线配套使用：Samtec产品编号TCMD-08-S-XX.XX-01；
上排为奇数针，下排为偶数针。右上为针1，右下为针2。

针号	名称	针号	名称
1	SCA1	2	SCA2
3	SCA3	4	SCA4
5	SCA5	6	SCA6
7	SCA7	8	SCA8
9	AUX_IN_1	10	AUX_OUT_1
11	AUX_IN_2	12	AUX_OUT_2
13	IO2	14	IO3
15	GND	16	GND

通讯控制接口软件/固件

ADMCA

X-123可利用Amptek公司的ADMCA显示和采集软件来控制：

能控制和设置X-123的各项参数，同时可以下载和显示数据；
支持感兴趣区域（ROI），标定，峰值搜索等；
包括一个接口程序，能与XRF-FP定量X射线分析软件包无缝连接。
在安装有Windows 98SE或更高版本的PC 兼容机上运行（仅32位），建议在 Windows XP PRO SP2或更高版本下运行。

DPP API

X-123自带有一个DLL数据库类型的应用程序接口程序，用户可以方便地根据自己的需要采用该数据库编写特定的代码来控制X-123，并集成到上X软件系统中；
另外AMPTEK还提供了VB，VC++上API使用的范例以及一个Pocket PC版的Window CE。

VB示例软件

基于VB的示例软件可在个人计算机上运行，而用户通过该软件可设置 X-123的参数，开始和中断数据采集以及保存数据文件。AMPTEK可提供用户源代码以方便修改。该软件仅为在没安装DPP API软件时，通过USB/RS232，使用基本指令控制X-123的范例，特别对于必须自行编写控制软件的非Windows平台系统有参考意义。

可选配件：
1. 可定购其它厚度的铍窗（0.3 mil，即7.5 µm）；
2. 高通量应用中所需的整套准直器；
3. 真空配件；
4. OEM应用。

ROHS检测仪EDX1800B、环保测试仪edx1800、X射线镀层测厚仪Thick800A、火花光电直读光谱仪OES1000、OES800、手持式光谱仪Genius5000、等离子光谱仪ICP2060T、EDX1800B、EDX3600B、EDX3000、EDX4500、EDX3600H、EDX3600L、EDX3000plus、EDX2800、EDX9000、EDX2000H、EDXXRF、WDX200、WDX400、genius3000、genius5000、genius7000、genius9000、SUPERXRF1050、HM-5000p、质谱联用仪：等离子体质谱仪ICP-MS2000、气质联用仪GC-MS6800、液质联用仪LC-MS1000、粮食镉大米重金属快速分析仪等

镀层测厚仪

型号：Thick 8000

原装正品配件天瑞仪器探测器S100维修，XR-100CR探测器维修

产品说明、技术参数及配置

仪器介绍
Thick800A是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。
性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可X定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
技术指标
型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互X立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
标准配置
开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
应用X域
黄金，铂，银等贵金属和各种X饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和X饰加工行业；银行，X饰销售和检测机构；电镀行业。

东莞市樟木头聪慧仪器设备经营部

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